GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗
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- 發(fā)布時(shí)間:2014/10/29 9:42:55
- 作者:銀河電氣
GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗為
GB/T 17626 電磁兼容 試驗和測量技術(shù)系列標準的第三部分。
GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗適用于電氣、電子設備的電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗,它規定了試驗等機構和必要的試驗程序。
本部分的目的是建立電氣、電子設備受到射頻電磁場(chǎng)輻射時(shí)的性能評定依據。本部分第5章固定的頻率以外不需要進(jìn)行試驗。對某些將來(lái)可能出現的無(wú)線(xiàn)電方面的新業(yè)務(wù)可能會(huì )降低電氣和電子設備的性能,因此有可能其他的頻段也規定試驗等級。
本部分適用于一般目的的用的抗干擾度試驗,對防止數字無(wú)線(xiàn)電話(huà)的射頻輻射有專(zhuān)門(mén)規定。
GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗并不對具體設備或系統的試驗作規定。本部分的主要目的是為有關(guān)專(zhuān)業(yè)表轉化技術(shù)委員會(huì )提供一個(gè)通用的基礎標準,制定產(chǎn)品標準時(shí)應該根據其產(chǎn)品選擇合適的試驗等級。
GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗等同采用國際標準IEC61000-4-3:2002(第2.1版本)《電磁兼容 試驗和測量量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗》,該標準基于IEC 61000-4-3:2002(第2版)+修正案A1(2002)制定。
GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗依據GB/T 20000.2-2001《標準化工作指南 第2部分:采用國際標準的規則》進(jìn)行下列編輯性修改;刪除IEC61000-4-3:2002(第2.1版本)的前言和引言,并將有關(guān)內容寫(xiě)入本部分前言中。
GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗自實(shí)施之日起代替GB/T 17626.3-1998《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗》。